Machine vision systems for inspection and metrology VIII - 21-22 September 1999, Boston, Massachusetts
- Författare
- (John W.V. Miller, Susan Snell Solomon, Bruce G. Batchelor, chairs/editors)
- Genre
- Konferenspublikation
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Cop. 1999 | USA | 252 sidor. | 0-8194-3429-9 |